双能光子计数探测器FLITE X系列产品描述
XC-FLITE X1、X2、X3是直接数字转换、自扫描、双能采集、光子计数X射线探测器，用于数字X射线成像系统，基于新型强大的CdTe-CMOS传感器平台研发而成，XC-FLITE X系列适用的能量范围广。
XC-FLITE X系列可以以帧为单位成像，也可以采用时间延迟总和（TDS）模式成像，扫描速度→最高90mm/s。
引进反符合技术的双能采集功能，是XC-FLITE X系列产品的先进之处，在双能采集过程中，通过两个独立的阈值将探测到的光子能量加以比较，并分别读出，双能设置可用作材料分析，这为新的医学和工业X射线成像技术开启了大门。反符合技术的运用，确保将每一个光子信号分布在适当的像素点上，从而〓获得更高的能量分辨率。
XC-FLITE X系列的产品内部具有一个精心设计的扫描驱动元件，可自动控制，整个扫描过程是完全透明可见的。
集成
XC-FLITE X系列，通过GigE接口将XC-FLITE X系列连接到计算机上，自带灵活的软件开发包，可控制所有XC-FLITE X的功能；可用在Vista、 Windows7和Windows8系统平台。
应用
*小范围X射线成像
*小动物成像
*实验室样品和标本成像
*工业检测（NDT）
双能光子计数探测器FLITE X系列特点&优势
*三种尺寸可选
*CdTe-CMOS传感器，高品质成像
*自扫描设计，透明可见
*双能采集，具有材料区分能力
*反符合技术，卓越的能量分辨率
*可以以帧为单位成像，也可以选择时间延迟总和（TDS）模式成像
*扫描速度最高90mm/s
*兼容Windows操作系统，从Vista到Windows8
*配有功能强大的可编程/开发的系统软件
双能光子计数探测器FLITE X系列基本参数
* 物理参数
尺寸 （L×W×H）：XC-FLITE X1：33.8×21.8×5.8cm
XC-FLITE X2：54.2×40.2×8.7cm
XC-FLITE X3：63.0×57.1×8.5cm
温度控制： Internal Peltier温度控制
环境温度：+10 - +30℃
储藏温度：-10-+60℃@ 10% - 95% 湿度
射线窗：碳纤维， 厚500μm
射线屏蔽：根据应用
* 传感器
传感器数量：X1：1 X2：2 X3：3
传感器类型：双能光子计数 CdTe-CMOS
传感器厚度：0.75mm-2.0mmCdTe
有效面积：X1：154.7×12.8mm(1536×128像素)
X2：309.4×12.8mm(3072×128像素)
X3：464.1×12.8mm(4608×128像素)
所有型号芯片间隙约1个像素
像素：100μm
像素填充率：100%
* 性能
最大扫描速度：X1：90 mm/s
X2 & X3：255 mm/s
帧率：最高1000 fps （也可选择时间延迟总和模式）
动态范围：12 bits
像素合并：1×1，2×2， 4×4
曝光时间：100μs-5s
DQE（0）： 85%@RQA5 spectra
MTF：＞80% @ 2lp/mm
＞45% @ 5lp/mm
管KV范围：20-250kVp
内部测试模式：伪随机测试模式
外部触发输出：光耦合器
输入：光耦合器
滞后：0%
拖影：＜0.1% X射线开启后1分钟，（12μGy）
分辨率和DQE曲线 （反符合开CC on和闭CC off）
