电路板故障检◤测仪产品简介：
在维修各种电子设备时，您是否常因图纸资料不全而束手无策您是否常因高昂的维修费用而增添烦恼？
高能检测仪GT-4040P帮助您解除电路板维修中的烦恼。 高能检测仪配合电脑使用，全部智能化。它利用电脑来弥补人工维修能力的不足，能够在维修人员缺乏图纸资料或不清楚电路板工作原理的情况下，对各种类型的电路板进行ASA分析或ICT测试，在线检测元器件好坏，迅速检测到电路板上故障元器件。
*先进的●测试技术，强大的驱动能力，任何故障原因的电路板皆可修好；
*友好简单的中文操作界面，不经专业训练，任何人均可成为维修专家；
*无需电路原理图，不必知道器件型号，对任何电路板皆可快速维修；
*40路数字电路测试功能，备有TTL、CMOS及中大规模集成电路数据库；
*40路/2路（ASA）V/I曲线分析测试功能；
*电路板测试存储功能，被测板可与之比较；
*真正的总线动态隔离信号，使IC测试更加准确；
*全面电路网络表提取，使您方便画出相应原理图；
*全面存储※器测试，方便您对存储器测试及在线读取；
*简单编程语言，使您自行扩充库成为现实；
*与进口同类仪器比较，性价比更▓优，操作更方便。
电路板故障检测仪工作原理:
（Analog Signature Analysis）对元件每个管脚提供一个安全◥、低功率的扫描驱动电压信号，以便产生一个阻抗特性图并在CRT上显示，且可存储，以备比对。所有测试都是在静态下（不加电）执行，所以不会伤害到元件。它不仅能快速扫描并存储各类IC每个管脚V/I曲线图形，并且对各类分立元件如：电阻、电容等同样有效。
（In Circuit Testing）它能把待测元件与PC资料库内相对应的元件资料作逻辑功能测试比较，测试时可在CRT上显示元件管脚连接状态、元件输∮入管脚的输入波形，同时显示相应输出管脚的实测波形及标准波形，以便判定IC逻辑功能好坏。此功能可快速测试IC好坏，也可测试分析，还可识别不明型号的IC。
主要测试功能:
数字IC功能测试?
本功能采用后驱动隔离技术，可在线判定IC逻辑功能是否正确，可测试74系列、4000/4500逻辑IC、75系列接口IC等两千余种集成电路。将测试仪上的5V外供电源通过随机所带电源钩引到被测板，再把测试夹夹在被测IC上，输入其型号，测试仪就在微机的控制下，自动进行测试，并将结果显示出来。在这个过程中，测试仪首先检查是否对被测板正确供电，然后检查测试夹同被测IC是否接触良好。一切正常，再检查被测IC各管脚处于何种状态（比如电源，地、输入/输出等）以及哪些管脚短接在一起，据此求出相应的测试码，送到被测IC输入端，再从IC输出端取回对测试码的响应。将取回的实测响应和计算出的预期响应相比较，就能发现故障。（后驱动隔离技术：后驱动隔离技术由美国施伦伯杰公司的Factron在68年提出。早在这类在线维修测试仪出现之前，就在生产用大型针床式电路板测试仪上得到广泛应用。该技术利用了半导体器件允许瞬态过载的特性，向被测IC的前级输出灌进瞬间大电流，强迫其按测试需要由高变低或由低变高。达到被测IC输入在线施加测试码的目的。）
电路板故障检测仪快速测试
故障电路板上↙有许多中小规模IC，究竟哪些IC是有问题的，可利用"快速测试"迅速进行筛选。此功能仅给出IC是否通过测试的结果，不提供任何故障诊断信息。下一步用诊断测试对未通过测试的IC作进一步的检查。
诊断测试
该测试不仅给出测试是否通过的信息，测试过程中的测试码波形、响应波形、各管「脚的逻辑状态、测试前的管脚电平、管脚的连接关系以及器件图都能显示出来，供您查阅。比较预期响应和实际响应的不同，可进一步了解IC测试失败的原因。 图为74ls24的管脚电平和连接关系
IC循环测试（Loop Test）
该功能专为检查因温升造成的故障而设。有的IC开机运行几分钟后，由于温升而失效，当停机后寻找故障时，温度降低功能又恢复正常。这种故障使维修人员深感头痛，"循环测试"功能有助于发现这种问题。
无型号IC识别
功能测试时必须键入被测IC的型号，但经常有IC型号不清楚或故意擦掉的情况，使得测试工作无法进行。本功能可迅速把无型号的IC的型号自动查出来显示在屏幕上。但这种查找必须是器件库内有的，并且功能必须完好。
电路板故障检测仪离线测试
上述几种测试功能均可在随机的离线测试器上进行。并且结果更准确。可用器件筛选，或对在线测试有问题的器件做进一步的确认。
数字IC状态测试
路板上每个数字器件，在加电后都有3种状态特征：各管脚的逻辑状态（电源、地、高阻、信号等）、管脚之间的连接关系、输入输出逻辑关系。当器件损坏后，其状态特征一般都要发生变化。测试仪能够把好的电路板上各IC的状态特征提取出来，存入微机的数据库中，然后与同类有故障的电路板进行比较，从而可相当准确的找到故障器件。这类学习的板越多，日后的工作越方便。 这种测试方法不仅适用于器件库中已有的IC，也适用于库中没有的IC。是检测各种专用器件、PAL、GAL、EPLD等可编程器件以及大规▓模集成电路强有力的手段。
VI曲线分析测试
本测试功能建立于模拟特征分析技术之上。可应用于模拟、数字，各种专用器件、可编程器件以及大规模、超大规模器件。 使用测试仪进行此项测试十分简单。只需用探棒点到好板子上的元件管脚上，或者用测试夹夹Ψ 在器件上，测试仪就能自动把该结点的特征曲线提取出来，显示在计算机屏幕上，最后存入计算机中。通过同样简单的操作，可以将库中的曲线和新测到的曲线在屏幕上同时显示出来。比较两者之差异就能发现故障。 曲线在计算机中是以电路板为单位存放的。一个板一个⊙文件，板上所有结点的曲线都放在该文件中，没有容量限制。允许用软盘拷贝出来。 该项测试一般要求在被测板不加电的情况下进行检测（只是注意板子上的电压不能高于扫描电压），这在很多情况下有助于进一步确认故障。 逻辑器件管脚节点处含有R、C、L元件，或者是模拟集成电路的故障，用"IV曲线分析"方法是很有效的。 "VI曲线"反映了节点处的阻抗特性，实际电路中的曲线形状是多样的，我们要熟悉典型元件的曲线形状；如纯电阻为直线，其斜率大，阻值小；纯电容为一椭圆，椭圆的Y/X轴比例越大其容量也越大【，以及我们常见的二极管、稳压管等不对称非线性PN结特征曲线等等。实际电路中提取的VI曲线必是这些典型曲线的合成。所以根据实际电路节点的VI曲线几何形状，可大致推测出该节点是哪些元件组成的；反之也可推测出某些属性节点提取的曲线的大概形状。如果比预测形状相差甚远，肯定有问题。 " VI曲线分析"还有另一个实用性：即当电路板上芯片温度异常过热，为了避免扩大故障范围，不适于加电测试时，可改用"VI曲线分析"（不加电）逐个管脚检查，能确切地定位故障点。 测试时需要注意的是当元件阻值（或阻抗）过大（R>300K，C<500PF）、过小（R<10，C>400uF）时，其曲线与开路、短路无法区分。VI曲线分析的这种局限性供您工作中参考。
全面存储器测试
全面存储器测试可对SRAM/DRAM，PROM/EPROM存储器共1500余种；
进行在线/离线、快速/完全测试，满足不同测试需求。 对PROM/EPROM，将其中的内容读取出来，和以前电路板无故障时读出并存储在计算机中的内容相比较，不一▆致则说明有问题。 DRAM/SRAM，在测试期间先写入，再读出。写入内容和读出内容不一致则说明有问题。
快速测试
其特点■是测试速度很快，用于迅速检测被测存储器是否有故障。它不遍历每个存储单元，只按一定算法取部分存储单元进行测试。
完全测试
遍历每个存储单元，所以可把PROM/EPROM中的内容全部读出来，存成二进制文件，供用户复制或剖①析。
离线测试
对未焊接在板子上的存储器进行测试，离线测试只有完全测试。
电路板故障检测仪在线测试
对焊接在板子上的存储器进行测试。存储器测试的特点是时间长。完全测试一个2K容量的存储器，也比最复杂的逻辑器件所用时间长得多。所以在线测试支持快速测试和完全测试。并且对完全测试进行了特殊处理，使得既能访问到每一个存储单元，有能保证测试安全。 存储器往往都挂在总线上，要保证在线测试准确，需用GUARD信号进行总线隔离。测试存储器所需※要的时间与存储容量成正比。对一个容量1K字节的读写存储器进行完全测试（即遍历每一个存储单元），至少需要4096个测试节拍。对容量为2K、4K、8K的存储器，其测试时间分别是测1K存储器的2倍，4倍，8倍。
LSI分析测试
LSI测试分析与中小规模IC的测试原理有很大差别，主要不同点在于：LSI内部结构与中小规模IC不同，其输入输出逻辑关系不能直接确定。一片LSI器件的功能一般都由许多子功能组成，如CPU器件就有取数、中断、复位等，也往往有不同的使用方式，如8086就有大小模式之分。对LSI的测试
